使用压片法利用X荧光分析仪分析熟料成分

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出版日期: 2004-09-25 发布日期: 2018-07-24 整期出版日期: 2004-09-25

TQ172.16

引用本文:

刘震, 关文涛, 张桂芬. 使用压片法利用X荧光分析仪分析熟料成分[J]. 水泥技术, 2004, 1(5): 96-99.
LIU Zhen, GUAN Wentao, ZHANG Guifen. Clinker Composition Analysis by Tableting Process and X－ray. Cement Technology, 2004, 1(5): 96-99.

链接本文:

http://www.cemteck.com/CN/ 或 http://www.cemteck.com/CN/Y2004/V1/I5/96

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